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复印机维修保养日常使用与选购

复印机电路板故障维修检测仪使用方法说明

发布时间:2016/09/15 复印机技术 浏览:1500

GT4040P

在维修各种电子设备时,您是否常因图纸资料不全而束手无策?您是否常因高昂的维修费用而增添烦恼?

高能检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。高能检测仪配合电脑使用,全部智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足,能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下,对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试,在线检测元器件好坏,迅速检测到电路板上故障元器件。简捷、经济地修好各种类型电路板。

 

先进的测试技术,强大的驱动能力,任何故障原因的电路板皆可修好;

友好简单的中文操作界面,不经专业训练,任何人均可成为维修专家;

无需电路原理图,不必知道器件型号,对任何电路板皆可快速维修;

40路数字电路测试功能,备有TTL、CMOS及中大规模集成电路数据库;

40路/2路(ASA)V/I曲线分析测试功能;

电路板测试存储功能,被测板可与之比较;

真正的总线动态隔离信号,使IC测试更加准确;

全面电路网络表提取,使您方便画出相应原理图;

全面存储器测试,方便您对存储器测试及在线读取;

简单编程语言,使您自行扩充库成为现实;

与进口同类仪器比较,性价比更优,操作更方便。

 

ASA

(Analog  Signature  Analysis)对元件每个管脚提供一个安全、低功率的扫描驱动电压信号,以便产生一个阻抗特性图并在CRT上显示,且可存储,以备比对。所有测试都是在静态下(不加电)执行,所以不会伤害到元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形,并且对各类分立元件如:电阻、电容等同样有效。

 

ICT

(In  Circuit  Testing)它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较,测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态、元件输入管脚的输入波形,同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形,以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏,也可测试分析,还识别不明型号的IC。

主要测试功能:

 

 

 

数字IC功能测试

本功能采用后驱动隔离技术,可在线判定IC逻辑功能是否正确,可测试74系列、4000/4500逻辑IC、75系列接口IC等两千余种集成电路。将测试仪上的5V外供电源通过随机所带电源钩引到被测板,再把测试夹夹在被测IC上,输入其型号,测试仪就在微机的控制下,自动进行测试,并将结果显示出来。在这个过程中,测试仪首先检查是否对被测板正确供电,然后检查测试夹同被测IC是否接触良好。一切正常,再检查被测IC各管脚处于何种状态(比如电源,地、输入/输出等)以及哪些管脚短接在一起,据此求出相应的测试码,送到被测IC输入端,再从IC输出端取回对测试码的响应。将取回的实测响应和计算出的预期响应相比较,就能发现故障。(后驱动隔离技术:后驱动隔离技术由美国施伦伯杰公司的Factron在68年提出。早在这类在线维修测试仪出现之前,就在生产用大型针床式电路板测试仪上得到广泛应用。该技术利用了半导体器件允许瞬态过载的特性,向被测IC的前级输出灌进瞬间大电流,强迫其按测试需要由高变低或由低变高。达到被测IC输入在线施加测试码的目的。)

 

(1)  快速测试

故障电路板上有许多中小规模IC,究竟哪些IC是有问题的,可利用“快速测试”迅

速进行筛选。此功能仅给出IC是否通过测试的结果,不提供任何故障诊断信息。下一步用诊断测试对未通过测试的IC作进一步的检查。

(2)  诊断测试

该测试不仅给出测试是否通过的信息,测试过程中的测试码波形、响应波形、各管脚

 

 

的逻辑状态、测试前的管脚电平、管脚的连接关系以及器件图都能显示出来,供您查阅。比较预期响应和实际响应的不同,可进一步了解IC测试失败的原因。

 

 

 

(3)  IC循环测试(Loop Test

该功能专为检查因温升造成的故障而设。有的IC开机运行几分钟后,由于温升而失效,当停机后寻找故障时,温度降低功能又恢复正常。这种故障使维修人员深感头痛,“循环测试”功能有助于发现这种问题。

(4)  无型号IC识别

功能测试时必须键入被测IC的型号,但经常有IC型号不清楚或故意擦掉的情况,使得测试工作无法进行。本功能可迅速把无型号的IC的型号自动查出来显示在屏幕上。但这种查找必须是器件库内有的,并且功能必须完好。

(5)  离线测试

上述几种测试功能均可在随机的离线测试器上进行。并且结果更准确。可用于器件筛选,或对在线测试有问题的器件做进一步的确认。

 

数字IC状态测试

电路板上每个数字器件,在加电后都有3种状态特征:各管脚的逻辑状态(电源、地、

 

高阻、信号等)、管脚之间的连接关系、输入输出逻辑关系。当器件损坏后,其状态特征一般都要发生变化。测试仪能够把好的电路板上各IC的状态特征提取出来,存入微机的数据库中,然后与同类有故障的电路板进行比较,从而可相当准确的找到故障器件。这类学习的板越多,日后的工作越方便。

这种测试方法不仅适用于器件库中已有的IC,也适用于库中没有的IC。是检测各种专用器件、PAL、GAL、EPLD等可编程器件以及大规模集成电路强有力的手段。

 

VI曲线分析测试

本测试功能建立于模拟特征分析技术之上。可应用于模拟、数字,各种专用器件、可编程器件以及大规模、超大规模器件。

 

 

 

使用测试仪进行此项测试十分简单。只需用探棒点到好板子上的元件管脚上,或者用测试夹夹在器件上,测试仪就能自动把该结点的特征曲线提取出来,显示在计算机屏幕上,最后存入计算机中。通过同样简单的操作,可以将库中的曲线和新测到的曲线在屏幕上同时显示出来。比较两者之差异就能发现故障。

 

曲线在计算机中是以电路板为单位存放的。一个板一个文件,板上所有结点的曲线都放在该文件中,没有容量限制。允许用软盘拷贝出来。

该项测试一般要求在被测板不加电的情况下进行检测(只是注意板子上的电压不能高于扫描电压),这在很多情况下有助于进一步确认故障。

逻辑器件管脚节点处含有R、C、L元件,或者是模拟集成电路的故障,用“IV曲线分析”方法是很有效的。

 

 

 

“VI曲线”反映了节点处的阻抗特性,实际电路中的曲线形状是多样的,我们要熟悉典型元件的曲线形状;如纯电阻为直线,其斜率大,阻值小;纯电容为一椭圆,椭圆的Y/X轴比例越大其容量也越大,以及我们常见的二极管、稳压管等不对称非线性PN结特征曲线等等。实际电路中提取的VI曲线必是这些典型曲线的合成。所以根据实际电路节点的VI曲线几何形状,可大致推测出该节点是哪些元件组成的;反之也可推测出某些属性节点提取的曲线的大概形状。如果比预测形状相差甚远,肯定有问题。

“VI曲线分析”还有另一个实用性:即当电路板上芯片温度异常过热,为了避免扩大故障范围,不适于加电测试时,可改用“VI曲线分析”(不加电)逐个管脚检查,能确切地定位故障点。

测试时需要注意的是当元件阻值(或阻抗)过大(R>300K,C<500PF)、过小(R<10,C>400uF)时,其曲线与开路、短路无法区分。VI曲线分析的这种局限性供您工作中参考。

 

全面存储器测试

全面存储器测试可对SRAM/DRAM,PROM/EPROM存储器共1500余种;进行在线/离线、快速/完全测试,满足不同测试需求。

对PROM/EPROM,将其中的内容读取出来,和以前电路板无故障时读出并存储在计算机中的内容相比较,不一致则说明有问题。

对DRAM/SRAM,在测试期间先写入,再读出。写入内容和读出内容不一致则说明有问题。

(1)  快速测试

其特点是测试速度很快,用于迅速检测被测存储器是否有故障。它不遍历每个存储单元,只按一定算法取部分存储单元进行测试。

   (2)完全测试

遍历每个存储单元,所以可把PROM/EPROM中的内容全部读出来,存成二进制

文件,供用户复制或剖析。

   (3)离线测试  

        对未焊接在板子上的存储器进行测试,离线测试只有完全测试。

   (4)在线测试

对焊接在板子上的存储器进行测试。存储器测试的特点是时间长。完全测试一个2K容量的存储器,也比最复杂的逻辑器件所用时间长得多。所以在线测试支持快速测试和完全测试。并且对完全测试进行了特殊处理,使得既能访问到每一个存储单元,有能保证测试安全。

 

存储器往往都挂在总线上,要保证在线测试准确,需用GUARD信号进行总线隔离。测试存储器所需要的时间与存储容量成正比。对一个容量1K字节的读写存储器进行完全测试(即遍历每一个存储单元),至少需要4096个测试节拍。对容量为2K、4K、8K的存储器,其测试时间分别是测1K存储器的2倍,4倍,8倍。

 

LSI分析测试

LSI测试分析与中小规模IC的测试原理有很大差别,主要不同点在于:LSI内部结构与中小规模IC不同,其输入输出逻辑关系不能直接确定。一片LSI器件的功能一般都由许多子功能组成,如CPU器件就有取数、中断、复位等,也往往有不同的使用方式,如8086就有大小模式之分。对LSI的测试就是对它的每一个子功能都用一段相应的测试码进行测试,我们称之为“子测试”,也就是说每个子测试只测一片LSI器件的一项子功能。通过好坏板上的子测试的比较情况来判断被测LSI器件是否有故障。

测试分析LSI首先要“离线学习”,以得出“参考文件”,再“离线测试”,以得出被测LSI的准确数据备用,然后“在线学习”好的被测板上的相同的LSI数据存入硬盘供日后与故障板进行比较。一片好的LSI器件,“离线测试”时应通过全部子测试,但在线时由于实际使用方式的不同,有的子功能使用,有的子功能不使用。那么好的LSI器件“在线学习”时,对其不使用的子功能(或方式),在进行“子测试”时,允许它不通过(失效)。因此这就要求先用一块好电路板,通过学习其上的LSI器件,可确定通过了哪些子测试,哪些没有通过并存入盘内,供日后对相同的、有故障的电路板做对照比较测试。如果与当时存入的那些子测试的通过情况不同,则表示该器件可能有问题。

 

◆  电路网络表提取及测试

 

全面电路网络表提取

为了得到被测电路板的电路图,以便日后更好地开展维修工作,您往往希望得到被测电路板的电路图。也许您(包括许多人)已经用万用表尝试过此项工作,用测试仪的此项功能您会有重新体会。

所谓“全面”网络表提取,是指测试仪提供三种操作模式,能够处理各种元器件之间的连接关系的提取。

 

(1) 测试夹 ――― 测试夹

这种模式主要用来处理数字IC之间的网络提取。用逻辑信号来检查IC之间是否直接相连。提取速度快,工作效率高。

(2)  测试夹 ――― 测试探棒

这种模式主要用来处理IC和分立元器件(包括一端是可使用测试夹的IC,一端是不能使用测试夹的IC)之间的连接关系。

(3)  测试探棒 ――― 测试探棒

这种模式主要用来提取分立元件之间(包括不能使用测试夹的IC)的连接关系。

 

后两种模式更多地涉及到模拟器件,所以用模拟信号来检查元器件之间的连接关系。目前的测试仪在后两种模式下,能够识别约8欧姆以上电阻、3.2毫亨以上电感和400微法以下电容。

 

全面电路网络测试

目前的电路在线维修测试仪,其各种测试功能,都是用于检查电路板上元器件的功能性故障的。对于电路板本身的故障,比如由于断线或金属化孔不通造成的开路故障;焊接或引线毛刺造成的短路故障则无能为力。由于这类故障往往不以元器件的功能异常表现出来,而是表现为电路板网络表的改变,所以,利用从好的电路板上“学习”到的网络表,去同相应的故障板做对照检查,就能发现电路板本身的开路/短路故障。

一般而言,在维修工作中,电路板的开/短路故障相对比较少见。而在电路板的生产调试中,绝大部分故障都是这种故障。所以,网络测试功能不仅使得测试仪能够更好地应用于维修测试,而且使它能够有效地用于小批量电子产品生产中的电路板故障检测。

网络测试的使用过程和提取基本一致。比较是否有错由计算机自动完成,并将出错结果在屏幕上显示出来。

 

◆  完善的辅助测试功能使检测更加可靠、准确

 

(1)  真正的总线动态隔离信号

从在线测试角度看,有两个以上的三态器件,其输出并接在一起就构成总线。测试期间的总线竞争是导致误判的最常见原因之一。而静态总线隔离信号是危及测试安全的常见情况。测试仪提供给您的是真正符合后驱动要求的动态隔离信号。只要简单地将它引到造成竞争的IC的使能端,该信号将在测试瞬间将该IC从总线上隔离开,保证测试准确。

(2)  测试夹接触检查

IC管脚氧化锈蚀、保护涂层未打磨干净或测试夹未夹牢靠都会造成接触问题。这是造成错误测试结果的又一常见原因。测试仪会在测试前检查接触情况、发现问题将及时在屏幕上提示出来。

(3)  自动加上拉电阻

测试仪可以识别集电极开路器件,在测试时加1K上拉电阻、无需另外费心。

(4)  掉电监测

这是一项十分重要、用户需要十分关注的功能。瞬间掉电(电网上的强烈干扰,电源接插件晃动等)往往发生于你毫无察觉的情况下。它会使测试仪电路状态混乱,导致测试通道失控,从而危及被测板电路的安全。大多数情况下会造成器件特性软化,工作寿命降低。但这种损坏,用户往往当时难以察觉。测试仪设有全面硬件掉电监测,可在掉电恢复后,立即(毫秒级)将电路及测试通道置于预期状态。

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